EN 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
作者:标准资料网 时间:2024-05-18 11:52:23 浏览:8881
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part3:Externalvisualinspection(IEC60749-3:2002);GermanversionEN60749-3:2002
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
【标准号】:EN60749-3-2002
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:密封性;潮气;机械试验;电子设备及元件;尺寸;温度变化;环境试验;半导体器件;集成电路;外观检查(试验);耐力;气候试验;电子工程;电学测量;元部件;气候;温度;试验;热学;半导体;电气工程;易燃性;环境;大气压
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:5P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
【标准号】:EN60749-3-2002
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:密封性;潮气;机械试验;电子设备及元件;尺寸;温度变化;环境试验;半导体器件;集成电路;外观检查(试验);耐力;气候试验;电子工程;电学测量;元部件;气候;温度;试验;热学;半导体;电气工程;易燃性;环境;大气压
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:5P.;A4
【正文语种】:英语
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